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PG15-J激光平面干涉仪
查看:  发稿日期:2020-01-15 14:05
PG15-J激光平面干涉仪
■ 产品用途
  可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。
■ 产品特点
1、PG15-J型激光平面干涉仪工作基于双光束等厚干涉原理。
2、根据近代光学的研究结果,光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。
■ 技术规格
1、第一标准平面(A面),不镀膜。 工作直径:D1=Φ146mm,
   不平度小于0.02μm(λ/30)。
2、第二标准平面(B面),不镀膜。 工作直径:D2=Φ140mm
   不平度小于0.03μm(λ/20)。
3、准直系统:孔径F/2.8, 工作直径:D1=Φ146mm,
   焦距:f=400mm
4、测微目镜:焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X,视场角2w=40o,
   成像物镜:I、D=4.5;П、D=7;Ш、D=10,f=16,f=23,f=37
5、干涉室尺寸:深260*宽300*190mm。
6、光源规格:激光ZN18(He-Ne)。
7、仪器的外形尺寸:长*宽*高 350*400*720mm。
8、仪器重量:100公斤。
 
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